安捷伦科技（Agilent Technologies）于8月5-10日在匹兹堡举办的IEEE国际电磁相容技术研讨会中，展示旗下的测试解决方案。
电磁相容性（EMC）已成为新的电气和电子产品的关键需求，目前全球的政府法规，均要求进行正式的认证测试与实地（in-field）监测。安捷伦广泛的电磁干扰（EMI）测试产品，包含了设计、塬型製作、製造与建置所需的测试功能。
安捷伦于研讨会中展示下列测试解决方案：
SystemVue 2012.06：设计师可以使用这个软体，来建立高速数位晶片对晶片（chip-to-chip）和机架到机架（rack-to-rack）链路所需的中通道（mid-channel）中继器和光链路模型，比起使用C语言来进行手动编码，可省下好几个月的编程时间。这些模型之后可送交中继器和光链路客户，好让他们使用ADS先进设计系统中的暂态/迴旋模拟器，将模型整合到完整的端对端通道模拟。
Agilent N9038A MXE：这款完全相容的EMI接收器，可以执行CISPR、MIL STD和DO-160量测。内建的诊断工具包括有频谱分析、光谱图、长条图和柱状图。将Agilent N6141A EMI量测应用软体搭配安捷伦X系列信号分析仪使用，可执行传导放射与辐射放射先期认证测试。
FieldFox射频分析仪和FieldFox向量网路分析仪：这些手持式测试仪器以适合野外/现场环境使用和坚固耐用闻名，可执行多种功能，包括天馈线分析、频谱分析和向量网路分析，内建的QuickCal校验功能，让工程师不需将校验套件带到野外现场即可校验网路分析仪。
新的Agilent PNA-L向量网路分析仪：这款测试仪器以较低的成本和经得起未来考验的功能，提供中阶VNA中最高的效能。安捷伦将使用PNA-L来展示EMC室的特性描述。
Agilent E5061B-3L5 ENA LF-RF向量网路分析仪：Agilent E5061B是符合业界标準的ENA系列网路分析仪的一员，可解决电子元件和电路设计师从低频到高频的各种量测需求。
安捷伦EEsof EDA高速数位设计产品经理Dr. Colin Warwick，在EMC Symposium Global University Signal Integrity课程系列中的The Power of S-Parameters for High Speed Digital Design主题发表演说，该课程涵盖S参数模型的运用，并提供可避免突发问题的秘诀和诀窍。