《电子元器件的可靠性》——2.7节正态分布或高斯分布

2.7 正态分布或高斯分布
2.7.1 正态分布规律
正态分布(Normal,Gaussian Distribution)最初是由误差理论推导出来的,是概率论中最重要的概率分布之一。它是哈根和高斯从不同假设角度出发,推导出相同的分布函数,故又称高斯分布,其分布密度函数f(t)为f(t)=12πe-(t-μ0)22σ2(2-13)式中,σ、μ0为与时间无关的常数。σ称为标准偏差或方均根误差,μ0称为均值。其失效分布密度函数如图2.13a所示。

从图2.13中可以看出:
1) 曲线关于μ0左右对称,两边的面积正好各占一半,且(μ0-σ)~(μ0+σ)的面积为曲线下总面积的68.3%,(μ0-2σ)~(μ0+2σ)的面积为曲线下总面积的95.4%,(μ0-3σ)~(μ0+3σ)的面积为曲线下总面积的99.7%,而不论σ值的大小如何均是这样,如图2.13b所示。
2) 在相同的σ值下,μ0的大小只影响图形的位置,而不影响形状。也就是说,μ0影响分布函数的平均值。
3) 在相同的μ0值下,σ的大小只影响曲线的平坦程度。σ越大,曲线越平坦,其失效概率分布越分散。
因此,只要确定均值μ0和标准偏差σ,就完全确定正态分布曲线。

2.7.2 失效率的状态分布
正态分布代表了产品的失效时间是以均值μ0为中心的对称分布,其失效率随时间增长而递增。正态分布可用来描述产品在某一时刻后由损耗或退化产生的失效。产品服从正态分布的可靠性特征量分别为:
可靠度R(t)=∫∞tf(t)dt=12πσ∫∞te-(t-μ0)22σ2dt累积失效概率F(t)=1-R(t)=∫t0f(t)dt=12πσ∫t0e-(t-μ0)22σ2dt失效率λ(t)=-1R(t)dR(t)dt=f(t)R(t)∫∞tf(t)dt=e-(t-μ0)22σ2∫∞te-(t-μ0)22σ2dt平均寿命μ=∫∞0tf(t)dt因为正态分布是对称分布,所以其数学表达式应为μ=∫∞0tf(t)dt=∫∞-∞t12πσe-(t-μ0)22σ2dt设Z=t-μ0σ,则t=σZ+μ0,dt=σdZ
代入上述,则可得μ=12π∫∞-∞(σZ+μ0)e-Z22dZ
=12π∫∞-∞σZe-Z22dZ+12π∫∞-∞μ0e-Z22dZ
=-σ2π∫∞-∞de-Z22+μ02π∫∞-∞e-Z22dZ
=-σ2πe-Z22∞-∞+2μ02π∫∞0e-Z22dZ
=2μ02π2∫∞0e-Z22dZ2=2μ0ππ2=μ0  因此,服从正态分布的电子产品的平均寿命是常数,且等于分布函数的均值μ0。显然,σ将表示产品寿命的分散程度,σ小表示分散程度小。
同样,也可以求出正态分布的方差,它等于分布的标准偏差的平方,即正态分布的方差为Dt=∫∞-∞(t-μ0)2f(t)dt=σ2  正态分布在可靠性计算中有两个主要应用:第一是考虑元器件的定量特性与标称值的关系,包括计算电子元器件特性符合性能要求的概率;第二是用于电子元器件描述耗损失效期的失效分布规律,因为耗损失效期的分布规律非常接近于正态分布。
必须指出的是,在威布尔分布与正态分布的分布函数均值和标准偏差相等的条件下,当威布尔分布的形状参数m介于3~4之间时,两种分布的分布密度函救的曲线基本上是重合的。因此,可以将正态分布规律用m=3~4的威布尔分布规律来近似。

2.7.3 正态分布概率纸
正态分布参数μ0、σ可用解析方法计算来确定,也可以根据类似威布尔分布的分析方法构造出正态概率纸,用图解法来求得。
因为累积失效概率函数F(t)=1-R(t)=∫t0f(t)dt=12πσ∫t0e-(t-μ0)22σ2dt若令Z=t-μ0σ,则dZ=1σdt,有F(t)=1-R(t)=∫Z-∞12πe-Z22dZ=Φ(Z)  显然,给出一个Z值,就有函数值Φ(Z)与之对应,正态分布表就是Z值与Φ(Z)值之间的对应关系表,其特殊点的对应关系如图2.14所示。
利用其对应关系可以构造出一种特殊概率纸——正态概率纸。正态概率纸也由两个直角坐标系构成,一个直角坐标系是t~Z直角坐标系,横轴是t轴,纵轴是Z轴,两坐标轴的刻度是线性的,另一个直角坐标系是t~Φ(Z)坐标系,由于F(t)=Φ(Z),也就是t~F(t)坐标系,其横轴还是原来的t轴,刻度不变;纵轴还是原来的纵轴,但纵轴的F(t)=Φ(Z)是按图2.14对应Z值的Φ(Z)值划分刻度的,从而构成正态概率纸,如图2.15所示。

因为Z=t-μ0σ,Z与t呈线性关系,所以,凡产品失效概率遵循正态分布规律时,在t~Z直角坐标系中将描绘出一条直线,而这条直线同样描绘在t~F(t)坐标系中。因此,满足正态分布的分布函数F(t)在t~F(t)坐标系中必将是一条直线,把这样的概率纸称为正态概率纸。
对于正态分布用正态概率纸来处理是十分方便的。下面简述正态概率纸的应用。
1.确定失效分布
1) 同前所述,将试验数据由小到大排列,按t~F(t)作成数据表;
2) 在正态概率纸上描绘出[ti,F(ti)]对应的点;
3) 通过所描出的点按最小二乘法原则或目视法配置回归直线,此直线就是所确定的产品失效分布曲线。
2.正态分布参数的估计
(1) 平均寿命μ0的估计
过F(t)轴上刻度为50%的点引水平线与回归直线相交,过交点引垂线与t轴相交的刻度值即为μ0。
因为F(t)=0.5所对应的Z=0,即t0.5=Zσ+μ0=μ0
(2) 标准偏差σ的估计
过F(t)轴上刻度为84.1%或15.9%的点,引水平线与回归直线相交,过交点做垂线与t轴相交的刻度值分别为t0.841或t0.159,则σ=t0.841-t0.5=t0.841-μ0或σ=t0.5-t0.159=μ0-t0.159如图2.15所示。这是因为Z=t-μ0σ,当Z=-1时,有-1=t0.159-μ0σ;当Z=0时,有0=t0.5-μ0σ;当Z=1时,有1=t0.841-μ0σ。
实际上有不少产品,其失效分布并不完全符合正态分布,更符合对数正态分布,如某些半导体器件和引擎材料疲劳试验的裂缝缺陷导致的失效,其分布符合对数正态分布。对数正态分布函数形式和分析方法与正态分布相类似,不同的只是将t用lnt来代替而已,其分布函数为F(t)=Φlnt-μ0σ如令lnt=x,则u=x-μ0σ,有F(t)=Φx-μ0σ=Φ(u)  由于t与x一一对应,u与Φ(u)也一一对应,因此,可以构造出对数正态概率纸。它与正态概率纸的唯一不同之出,只是横轴不按t线性刻度划分,而是按lnt线性刻度划分。同样可得对数正态分布的对数均值估计值为μ0=lnt0.5,以及对数标准偏差的估计值为σ=μ0-lnt0.159或σ=lnt0.841-μ0  这里必须特别指出的,由这种概率纸虽可估计出对数均值μ0和对数标准偏差σ,但不能直接从图上估计出产品的寿命特征值,还必须按下式换算才能得到产品的寿命均值α和标准偏差的估计值β公式,即α=eμ0+0.5σ2
σ=αeσ2-1

时间: 2024-09-09 06:18:25

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《电子元器件的可靠性》——导读

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